Аналитичен софтуер X-Scan
Аналитичният софтуер X-Scan е „инструмент“, който позволява бързо и лесно измерване и документиране на микрошлифове на кримпвани накрайници. Особено при производствения контрол на качеството, бързата проверка е от съществено значение, за да не се нарушава производственият процес. X-Scan подпомага разпознаването на изображения чрез автоматичните си функции, а генерирането на отчет се извършва само с натискане на един бутон. Тъй като спецификациите на различните производители се различават в зависимост от измервателната задача, потребителят може удобно да избере съответното правило на производителя преди започване на измерването.
Техническа характеристика:
- Документирано качество на продукта
- Базирана на база данни система за съхранение с функция за преглед на миниатюри (thumbnail preview)
- Автоматично разпознаване на контури
- Откриване на области (вътрешна повърхност на кримпа, кухини и сравнение)
- Функции за трансфер (сравнение цел–реално, изчисляване на съотношения)
- Редактор на отчети (шаблони за Excel или PDF; функция за импорт от Excel)
- Експорт във формат Excel, PDF, JPEG/BMP или директно отпечатване
- Многоезичен интерфейс
